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他,北大「國家杰青」,現(xiàn)任多個SCI雜志副主編,2025年已發(fā)3篇Nature子刊、1篇Cell子刊…

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成果簡介

電催化O2還原生產(chǎn)過氧化氫(H2O2)具有廣泛的應用前景;然而,由于缺乏高效和選擇性的電催化劑,阻礙了其進一步發(fā)展。

北京大學郭少軍教授、香港理工大學黃勃龍教授等人創(chuàng)造了一類電催化劑,通過將鋨(Os)單原子位點錨定在超薄硫化銅納米板(Os1-CuS NPs)上,通過增強雙電子途徑極大地促進了O2電還原成H2O2。具有硫配位的Os單原子位催化劑實現(xiàn)了創(chuàng)紀錄的高Os負載量(25.9 wt %)和卓越的H2O2產(chǎn)率(8.2 mol gcat-1 h-1),具有近乎完美的選擇性(~ 98%),使其成為最佳的金屬基電催化劑。

原位衰減全反射表面增強紅外吸收光譜(ATR-SEIRAS)和DFT計算表明,引入的Os位點通過增強OOH結(jié)合,促進了選擇性的2e氧還原途徑,從而抑制了不需要的4e途徑。孩研究提出了用于選擇性生成H2O2的高性能單原子電催化劑的設計。

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相關(guān)工作以《Osmium atomic sites on CuS nanoplates for efficient two-electron oxygen reduction into H2O2》為題在《Chem》上發(fā)表論文。

郭少軍,北京大學博雅特聘教授,國家重點研發(fā)計劃納米前沿總體組專家(2024)、國家杰出青年基金獲得者(2020年)、國家重點研發(fā)計劃首席科學家(2021年)、北京高等學校卓越青年科學家(2023年)、英國皇家化學會會士(2018年)、全球高被引科學家(2014—2023年;化學、材料)、愛思唯爾中國高被引學者(2017—2023年;化學、材料)。

長期從事電能源化學、材料與關(guān)鍵技術(shù)研究。提出了材料應變調(diào)控催化理念,揭示了材料應變、電荷與催化的構(gòu)效關(guān)聯(lián),創(chuàng)制了高效氫能催化劑體系,開發(fā)出自主產(chǎn)權(quán)國際領(lǐng)先水平的電解制氫和燃料電池器件,提升了氫電能源轉(zhuǎn)換效率,推動了應變催化理念在燃料電池、氫能等領(lǐng)域的應用。以通訊作者身份在Nature、Science、Nat. Synth.、Nat. Mater.、Nat. Rev. Chem.、Nat. Rev. Mater.、CNS系列、PNAS/JACS/AM/Angew等高影響力期刊發(fā)表學術(shù)論文。

截至目前,郭少軍教授2025年已發(fā)表多篇頂刊論文,如1月2日,連續(xù)在《Nature Communications》上發(fā)表兩篇論文。詳情可見報道:

1月16日,郭少軍教授在《Nature Synthesis》上發(fā)表題為《Industrial electrosynthesis of hydrogen peroxide over p-block metal single sites》的論文。該研究提出了通過氧功能基團調(diào)節(jié)金屬單原子催化劑,特別是錫(Sn)單原子催化劑,優(yōu)化了反應中H2O2中間體的吸附強度,顯著提高了能效(43%)。詳情可見報道:

圖文介紹

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圖1 Os1-CuS NPs的形態(tài)和結(jié)構(gòu)表征

通過在180℃的油浴中加熱含Os、Cu的金屬鹽、S粉和油胺混合物來合成Os1-CuS NPs。合成的樣品具有NP形態(tài),平均橫向直徑為~17 nm(圖1A),厚度約為3.5 nm(圖1B)。XRD圖中的主要衍射峰指向具有fcc相的CuS特征峰(圖1C),沒有觀察到Os特征峰,表明Os原子位點優(yōu)先與S配位(Os-S),而不是形成其他Os基化合物。EDS證實了NPs中存在Os、Cu和S元素(圖1D)。

通過像差校正的HAADF-STEM分析,以進一步表征Os1-CuS NPs中原子分散的Os位點的狀態(tài)和分布。如圖1E、1F所示,觀察到一定數(shù)量的亮點,確定為Os1-CuS NPs中孤立的Os原子位點,沒有團聚。圖1E中的FFT證實了Os1-CuS NPs中存在部分非晶態(tài)區(qū)域(圖1E1)。來自圖1E的偽彩色圖像更清晰地顯示了單個Os原子位點(藍色點)(圖1E2)。這些結(jié)果表明,Os原子位點以孤立的形式嵌入到NPs中。Os單原子位的負載量可高達25.9 wt %,(記為Os1-CuS NPs-H)。

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圖2 Os1-CuS NPs的電子結(jié)構(gòu)分析

本文采用XPS和XAS分析了Os的電子結(jié)構(gòu)和配位環(huán)境。圖2A顯示了Os1-CuS NPs-H和Os/C的Os 4f的XPS光譜。在結(jié)合能分別為51.08和53.78 eV時,Os/C的兩個特征峰為Os0,表明Os/C樣品中的Os處于金屬態(tài)。值得注意的是,Os1-CuS NPs-H的Os 4f峰被轉(zhuǎn)移到更高的結(jié)合能,并被Os2+和Os4+共存所擬合(圖2B),表明可能由于Cu原子的取代和Os-S鍵的形成而帶正電荷。

為了進一步分析Os的局部環(huán)境,對Os的L3邊緣進行了FT-EXAFS光譜分析。與OsO2和Os/C不同,Os1-CuS NPs-H的顯著峰位于2 ?,這是Os-S配位的結(jié)果。通過EXAFS擬合進一步分析Os原子位點的結(jié)構(gòu)參數(shù)(圖2C)。Os1-CuS NPs-H中沒有Os-Os峰,其中Os原子位點與S配位,配位數(shù)為5.7,鍵距為2.47 ?。小波變換進一步證實了這一點。

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圖3 Os1-CuS NPs的形成機制

考慮到合成反應速度快(在40℃左右溶液顏色變?yōu)楹谏占?0℃至180℃不同反應溫度下的產(chǎn)物,以闡明Os1-CuS NPs-H的形成機理。通過TEM對合成過程中的形貌、組成和相變化進行了跟蹤、分析。發(fā)現(xiàn)在40℃下產(chǎn)生不規(guī)則的小片狀納米晶體(NCs),直徑和厚度分別為~5和~1.2 nm(圖3A)。XRD譜圖表明,Cu(acac)2和S粉末首先被還原成純Cu晶種(圖3E), EDS和ICP結(jié)果進一步證實了這一點。

當溫度進一步升高到110℃(圖3B)時,大部分片狀晶種轉(zhuǎn)化為更大的NPs,平均直徑為~17 nm,厚度為~3 nm。隨著反應的進行(110℃-180℃), Os含量從40℃時的0.0 wt%變化到110℃時的5.0 wt%,然后上升到25.9 wt%(圖3F),這表明在此期間Os原子被嵌入到CuS NPs上形成了Os原子位點。有趣的是,隨著溫度的升高,Os1-CuS NPs的形貌變得越來越均勻,而如果不引入Os前驅(qū)體,則形成超大的NPs甚至塊狀產(chǎn)物。

當Os前體的量小于或等于3mg時,得到一些不均勻的多面體。越少的Os意味著形成的Os-S鍵越少,進一步證實了Os-S鍵是形成明確的NPs的關(guān)鍵。值得注意的是,用OsCl3前驅(qū)體取代Os3(CO)12仍能產(chǎn)生均勻的NPs,而使用W(CO)6則產(chǎn)生不規(guī)則的NPs。可以得出結(jié)論,Os原子是分散CuS納米結(jié)構(gòu)的關(guān)鍵。此外,當反應溫度從40℃變化到180℃時,Os1-CuS NPs保持了逐漸無定形的CuS相(圖3E),而在沒有Os前驅(qū)體的樣品上發(fā)生了相變。這表明這里的Os-S鍵對于維持2D CuS NPs的結(jié)構(gòu)至關(guān)重要。

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圖4 電催化2e ORR性能

在堿性條件下,研究了不同Os負載量的Os1-CuS NPs和其他催化劑對O2還原成H2O2的催化活性。圖4A為不同催化劑在飽和O2的0.1 M KOH條件下的典型ORR極化圖。結(jié)果表明,在所有被研究的催化劑中,Os1-CuS NPs-H/C獲得了最高的H2O2生成電流,并且具有0.77 V的高起始電位,幾乎與2e ORR的熱力學極限相同。用RRDE法測定了ORR對H2O2的選擇性和轉(zhuǎn)移電子數(shù)。在0.15~0.70 V范圍內(nèi),Os1-CuS NPs-H的選擇性最高,為86%~98%(圖4B),選擇性隨Os含量的增加而增加。具體而言,該催化劑在1.0 mA cm-2電流密度下H2O2選擇性達到98%,優(yōu)于Os1-CuS NPs-M/C、Os1-CuS NPs-l/C、CuS NPs/C、Os/C和大多數(shù)報道過的催化劑(圖4C)。各種催化劑的法拉第效率(FE)如圖4D所示。Os1-CuS NPs-H/C的FE最高,約為91%,遠遠優(yōu)于其他催化劑。在0.6 V時,Os1-CuS NPs-H/C的TOF值為1.02 s-1,高于其他大多數(shù)催化劑。

作者還進行了原位ATR-SEIRAS測量,以確定H2O2電合成過程中的關(guān)鍵中間體。如圖4E所示,在約1420 cm-1處存在一個O-O拉伸模式的峰。當電位降至0.7 V時,在約1249.5 cm-1處出現(xiàn)微弱的吸收峰,并隨著電位的降低逐漸增強。Os1-CuS NPs上的吸收峰可以歸因于OOH*中間體的O-O拉伸振動,它略微移動到比其他研究報道的更低的波數(shù),可能是由于不同的催化劑組成和活性位點。總的來說,光譜證實了在Os1-CuS NP催化劑上OOH*介導的2e ORR途徑。通過0.1~0.8 V的CV測試進一步研究了Os1-CuS NPs-H/C的耐久性。經(jīng)過10000次循環(huán)后,Os1-CuS NPs-H/C的ORR極化圖幾乎沒有變化, H2O2選擇性僅損失3%(圖4F)。此外,在CuS NPs中仍然可以觀察到孤立的Os原子位點亮點,這說明了Os和S之間的強相互作用在2e ORR期間保持高穩(wěn)定性方面的關(guān)鍵作用。

將生成的H2O2溶液作為Fenton試劑,通過在陰極液中引入適量的FeSO4和H2SO4來降解有機污染物,展示其潛在的應用前景。本文選取羅丹明B(RhB)作為模型污染物。首先在三電極流動池中以10 mA/cm2收集陰極電解質(zhì)5h,隨后將pH調(diào)節(jié)到3左右,然后加入1 mM FeSO4獲得Fenton試劑。如圖4G和4H所示,反應22 min后,RhB的降解效率達到了88.1%。綜上所述,Os1-CuS NPs是一種高效的電合成H2O2催化劑。

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圖5 DFT計算

通過DFT計算來研究Os1-CuS NPs-H上O2還原過程。對于原始的CuS NPs,注意到表面顯示出良好的電子分布,使得成鍵軌道和反鍵軌道均勻分布(圖5A)。這種高度有序的電子結(jié)構(gòu)降低了對H2O2的選擇性。將Os單原子位引入CuS后,調(diào)整了CuS的電子分布和晶格結(jié)構(gòu)(圖5B)。Os在表面的錨定引起了表面的畸變,從而放松了p-d電子轉(zhuǎn)移的限制。隨著Os負載量的進一步增加,晶格畸變更加明顯,導致CuS NPs的無定形變形(圖5C),與實驗表征一致。與原始的CuS NPs相比,表面的Os位點主導成鍵軌道;因此,電子重分配是提高對2e氧還原選擇性的關(guān)鍵因素。

通過PDOS對電子結(jié)構(gòu)進行了詳細的比較(圖5D)。對于原始的CuS NPs,注意到Cu 3d軌道在2.07 eV處有一個尖峰。S位點的3s和3p軌道被廣泛占據(jù),作為電子供應中心。作為對比,當引入Os單原子位時,注意到Cu 3d軌道在2.18 eV時被輕微抑制到較低的能級,導致d帶中心整體降低,同時抑制了氧還原中的過度活性(圖5E)。同時,Os 4d軌道在費米能級附近表現(xiàn)出較高的電子密度,成為保證電子從CuS向吸附質(zhì)有效轉(zhuǎn)移的活性中心。Os1-CuS NPs-H中Os-4d、S-3s和S-3p軌道也表現(xiàn)出良好的重疊,達到了有效的p-d耦合。

修飾后的Os1-CuS NPs-H在不犧牲電子轉(zhuǎn)移效率的情況下平衡了電活性,這對提高H2O2的選擇性具有重要意義。然后,Os1-CuS NPs-H內(nèi)Cu-3d軌道的相關(guān)PDOS顯示出從本體到表面高度穩(wěn)定的電子結(jié)構(gòu)(圖5F)。這表明Os1-CuS NPs-H在ORR過程中具有強大的電活性。作為對比,S-3s和S-3p位點被Os錨定誘導的非晶化活化(圖5G)。與本體相比,具有強畸變的表面S位點在EF附近顯示出更高的電子密度,表明Os1-CuS NPs-H存在高效的電子轉(zhuǎn)移。

為了抑制氧還原的4e途徑,非常需要*OOH與H2O2的弱結(jié)合,以避免O-O鍵的解離(圖5H)。原始CuS NPs的表面表現(xiàn)出兩種關(guān)鍵吸附質(zhì)的強結(jié)合,導致O-O鍵的快速斷裂。但這些吸附質(zhì)對Os1-CuS NPs-H的結(jié)合強度大大減弱,促進H2O2的形成和解吸。與其他位點相比,Os位點表現(xiàn)出最適合抑制O-O解離的吸附強度。為了比較反應趨勢,展示了Os1-CuS NPs-H上2e和4e途徑的能量變化。對于2e和4e途徑之間的反應競爭,決定因素分別是*OOH轉(zhuǎn)化為H2O2和*OOH轉(zhuǎn)化為*O的活化勢壘(圖5I)。值得注意的是,*OOH-H2O2途徑的活化勢壘為0.24 eV,幾乎是4e途徑(0.44 eV)的一半,表明Os單原子位點對H2O2形成的優(yōu)異選擇性。結(jié)果表明,優(yōu)化后的Os1-CuS NPs的電子結(jié)構(gòu)提高了對H2O2的選擇性。

還研究了引入Os單原子位點催化劑引起的結(jié)構(gòu)變化(圖5J)。百分比表示CuS NPs表面Os覆蓋負載的百分比。隨著Os負載量的增加,形成能也隨之增加。特別是,當Os覆蓋載荷達到55%時,形成能有明顯的增加,表明進一步增加Os覆蓋載荷是困難的。在此負載范圍內(nèi),相應的Os:Cu摩爾比與實驗表征吻合較好。鍵長分布也表明,隨著Os負載的增加,晶格畸變明顯(圖5K)。在CuS NPs中,Cu-S鍵主要位于2.2~2.4?附近,3.4?處的鍵是由層間的Cu-S鍵引起的。隨著Os負載量的增加,Cu-S鍵的長度變得更寬和強度更弱,驗證了形成的非晶結(jié)構(gòu)。徑向分布函數(shù)(RDF)結(jié)果也證實了這一現(xiàn)象(圖5L)。隨著強度的降低,峰的位移表明晶格中晶體結(jié)構(gòu)的丟失。

文獻信息

Osmium atomic sites on CuS nanoplates for efficient two-electron oxygen reduction into H2O2,Chem,2025.

原創(chuàng)文章,作者:zhan1,如若轉(zhuǎn)載,請注明來源華算科技,注明出處:http://www.xiubac.cn/index.php/2025/02/08/2f030ffefd/

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