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?第一作者：Qiuhong Yu，Rui Ge

通訊作者：秦勇、劉書海

通訊單位：蘭州大學

論文速覽：

研究半導體器件中的壓電、撓曲電和鐵電極化在界面工程中的應用，對于電子、光電子、催化等領(lǐng)域的應用具有重要意義。極化界面工程強烈依賴于界面勢壘的性質(zhì)，但界面勢壘一旦構(gòu)建，其固定值和不可控制性限制了極化界面工程的性能和應用場景。

本研究提出了一種利用電脈沖可逆且精確調(diào)控壓電效應（由壓電極化控制的界面勢壘和傳輸）的策略。實驗結(jié)果表明，在Ag/HfO₂/n-ZnO壓電電子學隧道結(jié)（PTJ）中，通過電脈沖可逆調(diào)節(jié)界面勢壘高度，可達168.11 meV，壓電效應可將應變（0-1.34%）調(diào)制電流范圍從0-18 nA切換到44-72 nA。

此外，電脈沖調(diào)控的界面勢壘在1.34%應變下可達到148.81 meV的，可完全改變電子設(shè)備的壓電性能。該研究為實現(xiàn)壓電效應的可逆控制提供了機會，并將其擴展到更廣泛的應用場景中，尤其適用于微/納電子機械系統(tǒng)。

圖文導讀：