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【理論計(jì)算】Chem. Mater.:CuRhO2塊體和表面的結(jié)構(gòu)、電子性質(zhì)和缺陷化學(xué)

研究背景

【理論計(jì)算】Chem. Mater.:CuRhO2塊體和表面的結(jié)構(gòu)、電子性質(zhì)和缺陷化學(xué)

通過光電化學(xué)(PEC)實(shí)現(xiàn)水分解是極具吸引力的研究方法,為了實(shí)現(xiàn)高的太陽能-氫(STH)轉(zhuǎn)換效率,選擇優(yōu)異的催化劑實(shí)現(xiàn)陽極析氧、陰極析氫十分必要。
在潛在的光電陰極材料中,氧化亞銅因其良好的直接帶隙而引起了人們的廣泛關(guān)注,然而,CuO2的氧化還原電位位于帶隙內(nèi),導(dǎo)致了電化學(xué)環(huán)境中的自光腐蝕,進(jìn)一步地CuRhO2憑借高穩(wěn)定性和良好的能隙(1.9eV)在光電析氫領(lǐng)域存在重要研究意義。目前對(duì)CuRhO2與其光催化活性相關(guān)的基本體積和表面性質(zhì)知之甚少。
普林斯頓大學(xué)Taehun Lee和 Annabella Selloni等人借助理論計(jì)算方法研究了原始和缺陷體CuRhO2的結(jié)構(gòu)、熱力學(xué)和電子性質(zhì),揭示體缺陷態(tài)及暴露表面在光激發(fā)過程中的作用規(guī)律。
模型與計(jì)算方法
本文通過QUANTUM ESPRESSO (QE) 軟件包進(jìn)行DFT計(jì)算,用標(biāo)量相對(duì)論優(yōu)化的模守恒范德比爾特(ONCV)贗勢描述了電子?離子的相互作用,采用GGA-PBE泛函進(jìn)行電子交換相關(guān)性,通過Freysoldt?Neugebauer?Van de Walle (FNV) 方法進(jìn)行校正帶電缺陷單元之間的偽靜電相互作用,并選用HSE06泛函精確獲得電子性質(zhì)及光學(xué)性質(zhì)。

結(jié)果與討論

CuRhO2以三角形結(jié)構(gòu)為框架,空間群R3m,六邊形對(duì)稱。由RhO6六面體和兩個(gè)配位的Cu原子組成,沿?軸呈線性的O?Cu?O構(gòu)型,經(jīng)過GGA-PBE、metaGGA SCAN、HSE06雜化功能對(duì)CuRhO2(3R和2H)多態(tài)相的結(jié)構(gòu)進(jìn)行計(jì)算,晶體結(jié)構(gòu)變化較小,能夠穩(wěn)定存在。
使用HSE06計(jì)算SCAN預(yù)測的幾何形狀的能量,給出熱力學(xué)能量范圍,其中體積CuRhO2相對(duì)于競爭的氧化銅、氧化銅、RhO2和Rh2O3相是穩(wěn)定的,而ΔμO在穩(wěn)定能量范圍內(nèi)的具體數(shù)值見紅色標(biāo)度條。
在圖1b中將穩(wěn)定范圍的頂點(diǎn)標(biāo)記為A、B和C,其中點(diǎn)A和C代表富金屬(特別是富Rh和富銅)條件,而點(diǎn)B代表富O條件。
【理論計(jì)算】Chem. Mater.:CuRhO2塊體和表面的結(jié)構(gòu)、電子性質(zhì)和缺陷化學(xué)圖1. CuRhO2的結(jié)構(gòu)及熱力學(xué)穩(wěn)定性判定
通過HSE06計(jì)算CuRhO2的帶隙(圖2),呈現(xiàn)2.35eV的間接帶隙,高于試驗(yàn)值的原因是由于計(jì)算沒有考慮激子效應(yīng)。
PDOS可以發(fā)現(xiàn)價(jià)帶(VB)由Rh 4d、Cu 3d和O 2p的電子貢獻(xiàn)混合組成,而最低的導(dǎo)帶(CB)主要由Rh 4d組成,對(duì)O 2p有一定的貢獻(xiàn)。
與CuFeO2相比,CuRhO2在VBM附近的Rh 4d的貢獻(xiàn)導(dǎo)致O 2p到Cu 3d 上的空穴遷移減少,從而降低了空間電荷分離的效率,說明Rh原子上的激發(fā)電子?空穴對(duì)可能發(fā)生重組。
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圖2. CuRhO2的電子性質(zhì)
隨后作者對(duì)CuRhO2缺陷態(tài)結(jié)構(gòu)進(jìn)行討論,VCu和CuRh缺陷是容易出現(xiàn)的兩種缺陷形式,并缺陷形成能較小。
結(jié)合圖3和圖S3,VCu和CuRh的(0/1-)轉(zhuǎn)變線分別發(fā)生在VBM以上的+0.19和+0.32 eV處,表明這兩種缺陷都是淺層p型半導(dǎo)體受體。同樣,對(duì)于CuRh和VCu,(1-/2-)躍遷水平都在CBM以上,這表明2?電荷態(tài)都是不利的。
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圖3. 缺陷形成能與費(fèi)米能級(jí)的關(guān)系
進(jìn)一步分析由CuRh引入的缺陷態(tài),在圖4中繪制了電荷中性(CuRh 0)和電荷(CuRh1?和CuRh 2?)缺陷的態(tài)密度及電子密度。
未配對(duì)的空穴態(tài)主要限域在Cu缺陷及相鄰的6個(gè)氧原子上,并且電荷中性下,Cu的價(jià)態(tài)高于+2價(jià),帶電量為1時(shí)價(jià)態(tài)為+2,帶電量為2時(shí)銅價(jià)態(tài)變?yōu)?1。隨著CuRh缺陷態(tài)帶電量增加,Cu的氧化性降低。
CuRh 1?比中性的CuRh 0缺陷表現(xiàn)出更大的eg態(tài)分裂,這種增強(qiáng)的分裂可以理解為Jahn – Teller效應(yīng),此時(shí)VB與CB發(fā)生共振,對(duì)于電子激發(fā)有促進(jìn)作用。并且隨著CuRh缺陷帶電量的提升,CuO6八面體的體積有規(guī)律地增加。
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圖4. CuRhO2缺陷態(tài)態(tài)密度和電子密度
計(jì)算原始CuRhO2和缺陷CuRhO2在平行和垂直于c軸的方向上介電函數(shù)的虛部。CuRh缺陷主要影響平面外響應(yīng)Im ε。
對(duì)于中性的CuRh 0缺陷,在0.90 eV處有一個(gè)突出的介電常數(shù)峰,光生載流子激發(fā)效率有所降低。對(duì)于帶負(fù)電荷的CuRh?1,在2 ~ 2.5 eV的能量范圍內(nèi)呈現(xiàn)出本征CuRhO2不存在的特征。
與本征CuRhO2相比,圖5d顯示了計(jì)算得到的吸收邊明顯向較低的能量方向移動(dòng),表明CuRh?1缺陷誘發(fā)材料表面對(duì)可見光吸收能力的增強(qiáng),對(duì)光催化性能有著積極影響。
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圖5. 介電常數(shù)與光吸收譜
銅空位缺陷(VCu)附近的6個(gè)Cu原子發(fā)生離域。這些銅原子具有自旋極化,磁矩小,范圍為+0.05 ~ +0.07 μB。在帶電的VCu 1?態(tài)中,缺陷態(tài)完全充滿并與VB共振,所有自旋極化消失(圖6c)。
這證實(shí)了VCu是一個(gè)單受體,只允許1?電荷狀態(tài),說明VCu的空穴態(tài)特征與其他相近體系(如CuAlO2和CuCrO2)類似。
VCu 0產(chǎn)生的淺層空穴態(tài)在熱激活時(shí)對(duì)p型半導(dǎo)體的電導(dǎo)率有貢獻(xiàn),而VBM處的帶電VCu 1?能促進(jìn)空穴從O 2p向Cu 3d共振態(tài)轉(zhuǎn)移(能量更高)。因此,該缺陷可以改善CuRhO2中光激發(fā)電子-空穴對(duì)的分離。
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圖6. 銅空位態(tài)密度
接下來作者對(duì)CuRhO2表面的電子性質(zhì)進(jìn)行分析,有四個(gè)可能的終止面:兩個(gè)表面由Rh或Cu原子終止,其他表面由氧與Rh (Rh/O表面)或Cu(Cu/O表面)原子終止。
在Rh/O表面,最外層的氧原子只有一個(gè)不飽和鍵。在弛豫時(shí),表面原子從其理想位置發(fā)生微小位移,導(dǎo)致最外層的O?Rh鍵的鍵長減少。RhO6八面體的對(duì)稱性保持效果良好(圖7a)。
并在相圖中,顯示Rh/O表面占主導(dǎo)地位,而金屬(Rh和Cu)端部表面在由塊狀Rh2O3和CuO包圍的能量區(qū)域(圖7d中白色箭頭)是不利于熱力學(xué)的,與體相結(jié)構(gòu)不同的是,當(dāng)VCu和CuRh缺陷都存在時(shí),只有CuRh缺陷出現(xiàn)在表面上。而富Cu表面(Cu表面或Cu缺陷)可以在富O和富Cu的條件下形成。
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圖7. CuRhO2表面的穩(wěn)定性
Rh/O、富Cu/O和Rh/O+CuRh表面的電子性能計(jì)算結(jié)果如圖8,Rh/O表面表現(xiàn)出半金屬性質(zhì),有利于CuRhO2(001)作為光電陰極的活性材料,在表面引入Cu原子,例如在Rh/O表面上的CuRh缺陷的存在,會(huì)產(chǎn)生跨越整個(gè)帶隙的表面局域態(tài)。
這些缺陷可以作為捕獲位點(diǎn),有利于光激發(fā)載體的重組,降低CuRhO2的光催化活性。此外,表面態(tài)也可以誘導(dǎo)費(fèi)米能級(jí)釘扎,從而限制光電壓。
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圖8. Rh/O、富Cu/O和Rh/O+CuRh表面的電子性能

結(jié)論與展望

本文的研究結(jié)果有助于深入了解Cu(I)基三角礦的本體和表面固有缺陷的特性及其對(duì)光電性質(zhì)的影響。也為相關(guān)材料的水界面和光電化學(xué)的理論研究做出指導(dǎo)。

文獻(xiàn)信息

Lee, T., Ferri, M., Piccinin, S., & Selloni, A. (2022). Structure, Electronic Properties, and Defect Chemistry of Delafossite CuRhO2 Bulk and Surfaces. Chemistry of Materials, 34(4), 1567-1577.
https://doi.org/10.1021/acs.chemmater.1c03248

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